半導體芯片冷熱沖擊試驗箱

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             艾思荔檢測儀器

半導體芯片冷熱沖擊試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 先進科學的空氣流通循環設計，使室內溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發生安全隱患，保證設備的長期可靠性.

半導體芯片冷熱沖擊試驗箱技術參數：

規格型號：TS-80

內箱尺寸：50*40*50cm

內箱材質 :SUS 304# 8K鏡面不銹鋼板.

外箱材質：特殊防銹處理之鋼板噴塑或SUS 304#紋路處理之不銹鋼.

高溫槽溫度范圍：+60 ~200℃.

低溫槽溫度范圍：A:（-55 ~ -10℃）. B:（-65 ~ -10℃）. D:（-80 ~ -10℃）.

實驗箱沖擊溫度：高溫 60~150℃

低溫 A:（-10 ~ -40℃） B:（ -10 ~ -55℃） D:（ -10 ~ -65℃）

升溫時間：60~200℃小于35分

降溫時間：A:+20~-55℃小于75分 B:+20~-65℃小于80分 D:+20~-75℃小于90分.

半導體芯片冷熱沖擊試驗箱特點： 

可設定循環次數及除霜次數自動（手動） 除霜.

產品外形美觀、結構合理、工藝先進、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。

設備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采獨特之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物完全靜止，應用冷熱風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區實現冷熱沖擊測試目的.

采用采用先進的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單, 學習容易, 穩定可靠,中，英文顯示完整的系統操作狀況、執行及設定程序曲線。

具96個試驗規范獨立設定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環周期1~999次可設定, 可實現制冷機自動運轉，大程度上實現自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行；

出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10秒內完成，冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內完成。

運轉中狀態顯示及曲線顯示,發生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發現輸入電力不穩定時,具有緊急停機裝置

冷凍系統采用復迭高效低溫回路系統設計，冷凍機組采用歐美進口壓縮機，并采用對臭氧系數為零的綠色環保（HFC）制冷劑R507，R23.

箱體左側具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。

可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。

超強安全保護功能：電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。

箱體內外部材質采用不銹鋼板（SUS#304）,外部材質有種不同外箱材質可供選擇：

紋路處理不銹鋼表面，如經常順著紋路擦拭，可使機器長時間保持嶄新的外觀（推薦此種選擇）

特殊防銹處理鋼板靜電噴涂表面，質地高（依客戶要求）

每個產品都根據客戶的要求訂做，保證了設備的高效節能，并在現場調試和驗收，保證用戶方的使用性能。

可擴充性“可擴充液態氮（LN2）快速低溫沖擊控制裝置。

沖擊恢復時間：高溫（150℃）沖擊30分鐘.

低溫：（-40℃or-55℃or-65℃）沖擊30分鐘.

沖擊恢復時間：5分鐘以內.

風門開啓時間： 3秒已內

保溫層：PU發泡.

底座：國標角鐵+國標槽鋼.

半導體芯片冷熱沖擊試驗箱用途： 

   半導體芯片冷熱沖擊試驗箱又稱高低溫沖擊試驗箱，用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.